Professors

Member of the Senate

• Microelectronics and Microsystems Technology
  
• Electronic components
• Material Sciences and Applied Solid-state Physics

PUBLICATIONS

 E 208

+49 (0)991 3615-513

+49 (0)991 3615-297

Kernkompetenzen

• Mikro- Nano- und OberflächenanalytikRaster-Sonden-Mikroskopie
• Raster-Elektronen-Mikroskopie & STEM
• Gefüge- und Strukturanalytik (EBSD)
• Röntgenanalytik (EDX, WDX)
• Mikro-Röntgenfluoreszenz (μ-XRF)
• FT-Infrarotspektroskopie
• IC Qualitätssicherung und Zuverlässigkeitsanalytik
• Fehler- und Ausfallanalytik
• Halbleitermesstechnik
• Dünne Schichten

Forschung & Beratung

Forschungsgruppe: Micro- und Nanoananlytik

Akademischer Werdegang

• Berufung: Prof. Hochschule Deggendorf 1998
• Promotion: Dr.-Ing., TU München 1994
• Studienabschluss: Dipl.-Ing. Elektrotechnik 1989

Beruflicher Werdegang

1989-1994: Wissenschaftlicher Assistent, TU München

1994-1995: Entwicklungsingenieur Siemens HL; DRAM – Projekt in Burlington, VT, USA

1995-1998: Leiter Fehleranalyse IBM/Siemens/Toshiba

seit 1998: Professor an der Hochschule Deggendorf Fakultät Elektrotechnik Medientech- nik Laborleiter für die Labore Elektronische Bauelemente, Mikroelektronik, Raster- Kraft- Mikroskopie und Oberflächenanalytik